簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "電機工程系".dept (精準) and ckeyword.raw="內容定址記憶體"


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    內容定址記憶體之高速測試與良率提昇技術
    • /99/ 碩士
    • 研究生: 許涵喻 指導教授: 呂學坤
    • 本篇提出內容定址記憶體 (CAMs) 的高速測試技術。根據 CAM 陣列的故障模型對電路所造成之影響,我們將故障模型分成兩類-串列測試的錯誤 (STFs) 和平行測試的錯誤 (PTFs),對 PTF…
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